表示晶粒大小的尺度叫晶粒度。
GB/T 6394-2002 |
金属平均晶粒度测定方法 |
ASTM E112-2013 |
金属平均晶粒度测定方法 |
YS/T 347-2004 |
铜及铜合金 平均晶粒度测定方法 |
检测面积不小于160mm2或根据试样而定。
圆形试样:直径10-12mm或根据试样而定。
方形试样 :10*15mm或根据试样而定。
晶粒度测定方法分为比较法、面积法和截点法三种。其中,比较法是常用方法。比较法不需要计算任何晶粒、截点、截距,是根据评级图测定晶粒度级别。标准评级图共分四个系列,分别称为系列图片Ⅰ、系列图片Ⅱ、系列图片Ⅲ和系列图片Ⅳ。
A系列图片Ⅰ |
无孪晶晶粒(浅腐蚀)100倍 |
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B系列图片Ⅱ |
有孪晶晶粒(浅腐蚀)100倍 |
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C系列图片Ⅲ |
有孪晶晶粒(深腐蚀)75倍 |
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D系列图片Ⅳ |
钢中奥氏体晶粒(渗碳法)100倍 |
比较法 偏差+-0.5级,R&R+-1级。
面积法是计算已知面积内的晶粒个数,利用单位面积内晶粒数来确定晶粒度级别。精确度+-0.25级,R&R+-0.5级
截点法是计算已知长度的试验线段(或网格)与晶粒截面相交截部分的截点数。对于非均匀等轴晶粒的各种组织应使用截点法。截点法分为直线截点法、单圆截点法和三圆截点法。截点法精确度+-0.25级,R&R+-0.5级